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本测试设备能满足各种封装形式的二极管、三极管、场效应管、可控硅等分立器件的高温反偏寿命试验(HTRB)、高温漏电流测试(HTIR)、老炼筛选。测试设备主要技术条件符合JB/T-7626-2013等相关标准。设备的安全性和使用耐久性。测试的电压和电流波形同时被采集到示波器，并由示波器与工控机直接通讯，将采集数据传输给计算机，计算机经过处理计算后，将测试数据以表格形式显示并可进行编辑和打印。
系统单元及参数条件：
高温试验箱 | 试验箱温度控制范围：环境温度～150℃ 温度过冲：≤3.0℃ 试验箱温度均匀性：空载时小于±2.0℃，满载时小于±3.0℃ |
| 电压检测 | 检测范围：1~1200V，分辨率：0.1V，误差：±2%±5L |
| 工位电流检测 | 检测范围:0.1uA~20mA/0.01uA~4mA(可根据实际需求定制)，分辨率:0.1uA/0.01uA，误差：±2%±5L |
| 计算机控制系统 | 设备的所有工作程序，工作时序，开关的动作状态，数据的采集等均由计算机完成。工业控制机，具有抗电磁干扰能力强，排风量大等特点。 |