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晶闸管门/阻断特性测试仪是可用于测量晶闸管的VDRM、VRRM、IDRM、IRRMVGT、IGT、 IH以及二管的VRRM、IRRM参数以及其它半导体器件的相关参数测试的设备。它的测试方法符合GB/JB/T7626-2013标准。
该测试台具有漏电流自动保护功能，过电压自动保护功能。阻断电压和漏电流均采用数字表显示，读数准确、直观。门特性测试仪是专为测试晶闸管的门参数而设计的，是晶闸管出厂的设备。该测试台具有测试精度高、测试操作方便、稳定性好等优点。
技术指标
阻断特性 | 输出峰值漏电流 | 低档：1-10mA±3%，分辨率：0.1mA /High-grade 10-100mA±3%，分辨率：1mA 手动切换高低档 |
输出峰值电压 | 0.20-5.0kV±3%，分辨率：10V | |
保护电流 | 0.2-100mA±5%，面板设定 | |
测试频率 | 50Hz Or 5Hz，手动切换 | |
门特性 | 维持电流 | 1-250mA±2mA、分辨率：1mA |
门触发电压 | ：0.20-5.00V±5% 分辨率：0.02V；低档：0.10-2.50V±5% 分辨率：0.01V；测试频率：单次: single time | |
门触发电流 | 1-500mA±5% 分辨率：2mA； 1-250mA±5% 分辨率：1mA；测试频率：单次: single time | |
电压调节方式 | 手动切换正反向测试 | |
维持冲击 | 0、20A、30A、40A分四档供选择 |